粒度粒形分析儀是根據顆粒能使激光產生散射這一物理現象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和較強的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現象。  

實驗原理：  

粒度粒形分析儀是利用粒子的布朗運動，根據光的散射原理測量粉顆粒大小的，是一種比較通用的粒度儀。其特點是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便，尤其適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。對粒度均勻的粉體，比如磨料微粉，要慎重選用。  

集成了激光技術、現代光電技術、電子技術、精密機械和計算機技術，具有測量速度快、動態(tài)范圍大、操作簡便、重復性好等優(yōu)點，現已成為流行的粒度測試儀器。  

作為一種新型的粒度測試儀器，已經在其它粉體加工與應用領域得到廣泛的應用。它的特點是測試速度快、重復性好、準確性好、操作簡便。對提高產品質量、降低能源消耗有著重要的意義。  

粒度粒形分析儀功能及特點：  

可對高速運動狀態(tài)下的顆粒進行清晰的粒形和粒度分析，從不同的方向測試顆粒的形狀，保證被測試樣品的代表性。  

高效、簡潔的模塊化設計，讓不同的分散系統(tǒng)和圖形分析系統(tǒng)自由組合，完成不同應用領域的測試要求，比如對粉狀物料、懸浮液、纖維狀物料、透明晶體的粒形粒度分析。  

可達到亞微米級的高清晰度、高精度的粒形和粒度大小同步測試。  

高達400萬像素的CMOS成像系統(tǒng)，可以保證清晰的得到每一個顆粒的粒形信息。  

每秒高達500幅圖片的成像速度，可以快速的獲得大量的顆粒粒度信息，并進行統(tǒng)計分析。  

可以用于顆粒的計數應用。